9月30日，香港城市大学Kay Chen TAN教授应高亮教授邀请，来我院进行学术交流访问，并作题为“计算智能在设备状态维护中的应用”专题报告。
TAN教授介绍了神经形态认知及计算、优化方法、数据挖掘与分析以及机器学习等理论方法，从设备剩余使用寿命预测、不平衡样本学习、表面质量检测、焊接缺陷检测四个方面详细阐述了计算智能在设备状态维护中的应用。
报告中，TAN教授分享了自己的科研经验与成果，深入浅出的讲解令同学们受益匪浅，并与同学们交流了技术细节、讨论了未来的研究方向。
报告在大家的积极参与及互动下圆满结束。
【Kay Chen TAN介绍】
Kay Chen TAN，香港城市大学电脑科学系教授，IEEE会士。IEEE Transactions on Evolutionary Computation主编（该刊影响因子超过10），IEEE Computational Intelligence Magazine主编（2010-2013），超过15个国际期刊的编委，受邀为50多个国际会议做大会报告，2016 IEEE World Congress on Computational Intelligence大会联合主席，elected member of IEEE CIS AdCom（Computational Intelligence Society Administrative Committee）（计算智能协会行政委员会当选委员）（2017-2019），IEEE Distinguished Lecturer（杰出讲师，IEEE会员最高荣誉）(2015-2017)。
研究领域覆盖人工智能、计算智能、机器学习、设备状态维护等。已经发表了130余篇国际期刊论文，130余篇会议论文，合作出版7本着作。
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